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泰州巨納新能源牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布

泰州巨納新能源牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布

  • 分類:公司新聞
  • 作者:泰州巨納新能源辦公室
  • 來源:
  • 發(fā)布時間:2024-05-06 22:09
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【概要描述】? ? ? ?2024年3月15日,國家市場監(jiān)督管理總局(國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會)發(fā)布2024年第1號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)公告,批準(zhǔn)由泰州巨納新能源有限公司和中科院上海微系統(tǒng)所牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布,并將于2024年7月1日起實施。 ? ? ? ?國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》由TC279(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口,TC279/WG9(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會低維納米結(jié)構(gòu)與性能工作組)組織,主管部門為中國科學(xué)院。該國家標(biāo)準(zhǔn)的主要起草單位為泰州巨納新能源有限公司、中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所、上海巨納科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、廈門凱納石墨烯技術(shù)股份有限公司、泰州飛榮達(dá)新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、東南大學(xué)、南京大學(xué)、電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院、清華大學(xué)、江南大學(xué)、貴州金特磨削科技開發(fā)有限公司、福建翔豐華新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯檢測認(rèn)證有限公司、欣旺達(dá)電子股份有限公司。主要起草人為王浩敏、丁榮、呂俊鵬、謝曉明、王慧山、孔自強、陳晨、陳谷一、袁文軍、王蘭蘭、方崇卿、邵悅、倪振華、王欣然、李雪松、王琛、肖少慶、張豪、宋宏芳、許莉、干靜、洪江彬、陳敏、嚴(yán)春偉。 ? ? ? ?石墨烯薄膜廣泛應(yīng)用于電子器件領(lǐng)域,如顯示、通信和可穿戴設(shè)備。不同的應(yīng)用對石墨烯薄膜的載流子遷移率和方塊電阻有不同的要求,而載流子遷移率和方塊電阻決定了石墨烯薄膜的性能。載流子遷移率和方塊電阻是石墨烯薄膜質(zhì)量控制和產(chǎn)品開發(fā)的關(guān)鍵控制特性。從觸摸屏到太陽能電池,方塊電阻電阻變化了兩到三個數(shù)量級。然而,即使由相同的薄膜制成,從不同結(jié)構(gòu)的器件中提取的載流子遷移率也存在巨大差異。本標(biāo)準(zhǔn)的制定有規(guī)范石墨烯薄膜的霍爾器件形狀、電極類型、電極接觸方式、測量步驟等,提高石墨烯薄膜質(zhì)量評價體系的科學(xué)性,降低不同實驗條件對載流子遷移率和方塊電阻測量造成的干擾。同時,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量方法操作簡單,成本低廉,具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。

泰州巨納新能源牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布

【概要描述】? ? ? ?2024年3月15日,國家市場監(jiān)督管理總局(國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會)發(fā)布2024年第1號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)公告,批準(zhǔn)由泰州巨納新能源有限公司和中科院上海微系統(tǒng)所牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布,并將于2024年7月1日起實施。

? ? ? ?國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》由TC279(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口,TC279/WG9(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會低維納米結(jié)構(gòu)與性能工作組)組織,主管部門為中國科學(xué)院。該國家標(biāo)準(zhǔn)的主要起草單位為泰州巨納新能源有限公司、中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所、上海巨納科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、廈門凱納石墨烯技術(shù)股份有限公司、泰州飛榮達(dá)新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、東南大學(xué)、南京大學(xué)、電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院、清華大學(xué)、江南大學(xué)、貴州金特磨削科技開發(fā)有限公司、福建翔豐華新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯檢測認(rèn)證有限公司、欣旺達(dá)電子股份有限公司。主要起草人為王浩敏、丁榮、呂俊鵬、謝曉明、王慧山、孔自強、陳晨、陳谷一、袁文軍、王蘭蘭、方崇卿、邵悅、倪振華、王欣然、李雪松、王琛、肖少慶、張豪、宋宏芳、許莉、干靜、洪江彬、陳敏、嚴(yán)春偉。

? ? ? ?石墨烯薄膜廣泛應(yīng)用于電子器件領(lǐng)域,如顯示、通信和可穿戴設(shè)備。不同的應(yīng)用對石墨烯薄膜的載流子遷移率和方塊電阻有不同的要求,而載流子遷移率和方塊電阻決定了石墨烯薄膜的性能。載流子遷移率和方塊電阻是石墨烯薄膜質(zhì)量控制和產(chǎn)品開發(fā)的關(guān)鍵控制特性。從觸摸屏到太陽能電池,方塊電阻電阻變化了兩到三個數(shù)量級。然而,即使由相同的薄膜制成,從不同結(jié)構(gòu)的器件中提取的載流子遷移率也存在巨大差異。本標(biāo)準(zhǔn)的制定有規(guī)范石墨烯薄膜的霍爾器件形狀、電極類型、電極接觸方式、測量步驟等,提高石墨烯薄膜質(zhì)量評價體系的科學(xué)性,降低不同實驗條件對載流子遷移率和方塊電阻測量造成的干擾。同時,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量方法操作簡單,成本低廉,具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。

  • 分類:公司新聞
  • 作者:泰州巨納新能源辦公室
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  • 發(fā)布時間:2024-05-06 22:09
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       2024年3月15日,國家市場監(jiān)督管理總局(國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會)發(fā)布2024年第1號中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)公告,批準(zhǔn)由泰州巨納新能源有限公司和中科院上海微系統(tǒng)所牽頭起草的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》正式發(fā)布,并將于2024年7月1日起實施。

       國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 43682-2024《納米技術(shù) 亞納米厚度石墨烯薄膜載流子遷移率及方塊電阻測量方法》由TC279(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會)歸口,TC279/WG9(全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會低維納米結(jié)構(gòu)與性能工作組)組織,主管部門為中國科學(xué)院。該國家標(biāo)準(zhǔn)的主要起草單位為泰州巨納新能源有限公司、中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所、上海巨納科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、廈門凱納石墨烯技術(shù)股份有限公司、泰州飛榮達(dá)新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究檢測平臺有限公司、東南大學(xué)、南京大學(xué)、電子科技大學(xué)(深圳)高等研究院、清華大學(xué)、江南大學(xué)、貴州金特磨削科技開發(fā)有限公司、福建翔豐華新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯檢測認(rèn)證有限公司、欣旺達(dá)電子股份有限公司。主要起草人為王浩敏、丁榮、呂俊鵬、謝曉明、王慧山、孔自強、陳晨、陳谷一、袁文軍、王蘭蘭、方崇卿、邵悅、倪振華、王欣然、李雪松、王琛、肖少慶、張豪、宋宏芳、許莉、干靜、洪江彬、陳敏、嚴(yán)春偉。

       石墨烯薄膜廣泛應(yīng)用于電子器件領(lǐng)域,如顯示、通信和可穿戴設(shè)備。不同的應(yīng)用對石墨烯薄膜的載流子遷移率和方塊電阻有不同的要求,而載流子遷移率和方塊電阻決定了石墨烯薄膜的性能。載流子遷移率和方塊電阻是石墨烯薄膜質(zhì)量控制和產(chǎn)品開發(fā)的關(guān)鍵控制特性。從觸摸屏到太陽能電池,方塊電阻電阻變化了兩到三個數(shù)量級。然而,即使由相同的薄膜制成,從不同結(jié)構(gòu)的器件中提取的載流子遷移率也存在巨大差異。本標(biāo)準(zhǔn)的制定有規(guī)范石墨烯薄膜的霍爾器件形狀、電極類型、電極接觸方式、測量步驟等,提高石墨烯薄膜質(zhì)量評價體系的科學(xué)性,降低不同實驗條件對載流子遷移率和方塊電阻測量造成的干擾。同時,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測量方法操作簡單,成本低廉,具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。

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